一种用于单层微波电容器容损测试的夹具

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201920976807.7
IPC分类号：G01R27/26;G01R31/00;G01R1/04
申请日期：
2019-06-26
申请人：
福建毫米电子有限公司

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著录项信息

专利名称	一种用于单层微波电容器容损测试的夹具
申请号	CN201920976807.7	申请日期	2019-06-26
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 G01R27/02 电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量（仅仅通过测量相位角的入G01R 25/00） G01R27/26 电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;7;/;2;6;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	福建毫米电子有限公司	申请人地址	广东省广州市南沙区东涌镇昌利路六街6号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广州天极电子科技股份有限公司	当前权利人	广州天极电子科技股份有限公司
发明人	林泽清;曾小力;潘甲东
代理机构	泉州君典专利代理事务所（普通合伙）	代理人	傅家强

摘要

一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，包括底座、测试探针、支架和驱动机构，底座设置有用于放置单层微波电容器的放置槽，测试探针与放置槽相对可在第一位置与第二位置之间升降移动地设置在支架上，驱动机构连接并驱动测试探针升降移动，所述放置槽的底面设置有铜排，铜排连接有线缆，当测试探针在第一位置时，测试探针位于放置槽的上方，当测试探针在第二位置时，测试探针下降至放置槽中，单层微波电容器夹紧在铜排与测试探针之间，夹具整体结构简单，操作简单、难度低，提高了测试效率，而且单层微波电容器与铜排和测试探针均具有良好的接触性，大大提高了测试的准确性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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