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存储器的测试电路和测试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811648942.5
  • IPC分类号:G11C29/50
  • 申请日期:
    2018-12-30
  • 申请人:
    中电海康集团有限公司;浙江驰拓科技有限公司
著录项信息
专利名称存储器的测试电路和测试方法
申请号CN201811648942.5申请日期2018-12-30
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-07-07公开/公告号CN111383705A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G11C29/50IPC分类号G11C29/50查看分类表>
申请人中电海康集团有限公司;浙江驰拓科技有限公司申请人地址
浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢3*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中电海康集团有限公司,浙江驰拓科技有限公司当前权利人中电海康集团有限公司,浙江驰拓科技有限公司
发明人刘少鹏;熊宝玉
代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司代理人韩建伟;董文倩
摘要
本申请提供了一种存储器的测试电路和测试方法。存储器包括至少一个存储单元,存储单元包括第一端和第二端,该测试电路包括:电流施加单元,电流施加单元的两端分别与第一端和第二端电连接,电流施加单元用于向存储单元提供恒定电流;电压读取单元,电压读取单元的两端分别与第一端和第二端电连接,电压读取单元用于读取存储单元在恒定电流时的电压。该测试电路的电流施加单元向存储单元提供恒定的电流,使得存储单元在恒定的电流下工作,电压读取单元读取存储单元在恒定电流时的电压,这样利用恒定电流和读取得到的电压就可以计算得到存储单元的电阻,该电阻仅为存储单元的电阻,不包括串联的其他寄生电阻。

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