电子元件对位偏移检测方法及其检测装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200710128657.6
IPC分类号：G01R31/00;G01D5/12;G01D5/25
申请日期：
2007-07-09
申请人：
友达光电股份有限公司

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著录项信息

专利名称	电子元件对位偏移检测方法及其检测装置
申请号	CN200710128657.6	申请日期	2007-07-09
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-11-14	公开/公告号	CN101071149
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;D;5;/;1;2;;;G;0;1;D;5;/;2;5查看分类表>
申请人	友达光电股份有限公司	申请人地址	中国台湾新竹市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	友达光电股份有限公司	当前权利人	友达光电股份有限公司
发明人	周志汉;贺庆;赵忠源;丛周建
代理机构	隆天国际知识产权代理有限公司	代理人	陈晨

摘要

本发明公开了一种电子元件对位偏移检测方法及其检测装置，用以检测电子元件贴附至贴附对象时的对位偏移状态，贴附对象具有贴附区以贴附电子元件。所述检测方法包括：将第一导线连接至位于贴附区外围的导电标记；将第二导线连接至电子元件；将信号输出元件连接至第一导线及第二导线中的一条；提供电压信号给第一导线及第二导线中的另一条；以及将电子元件贴附至贴附区。当发生对位偏移时，电子元件与导电标记产生短路，将电压信号传输至信号输出元件，从而使信号输出元件发出警示信号。本发明可以简单且准确地检测出电子元件的对位偏移状态。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN1889243A	2007-01-03	2006-07-24	对位精度检测装置有效专利	友达光电股份有限公司
2	CN1844845A	2006-10-11	2006-03-20	对准检测结构及对准偏移量的检测方法失效专利	友达光电股份有限公司

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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