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基于结构相似性度量的多晶硅电池片裂纹缺陷检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910737874.8
IPC分类号：G06F17/50;G06T7/00;G06T5/00;G01N21/88
申请日期：
2019-08-12
申请人：
河北工业大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于结构相似性度量的多晶硅电池片裂纹缺陷检测方法
申请号	CN201910737874.8	申请日期	2019-08-12
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-12-27	公开/公告号	CN110619146A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕 G06F17/50 计算机辅助设计（静态存储的测试电路的设计入G11C 29/54）〔6，8〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;5;0;;;G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;5;/;0;0;;;G;0;1;N;2;1;/;8;8查看分类表>
申请人	河北工业大学	申请人地址	天津市红桥区丁字沽光荣道8号河北工业大学东院330# 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	河北工业大学	当前权利人	河北工业大学
发明人	刘卫朋;韩达;赵慧芳;黄迪;陈海永
代理机构	天津翰林知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	张国荣

摘要

本发明公开基于结构相似性度量的多晶硅电池片裂纹缺陷检测方法，该方法包括如下步骤：步骤1，结构相似性度量函数设计；步骤2，预处理待检测图像；步骤3，裂纹缺陷提取和定位。与现有技术相比，本发明的检测方法能够增强裂纹缺陷，抑制晶粒，从而提高裂纹缺陷和EL图像背景的对比度，获取一致均匀的背景，实现非均匀纹理背景下裂纹缺陷检测。

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