一种新型半导体测试设备

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201922437513.X
IPC分类号：G01R31/28;G01R1/04
申请日期：
2019-12-30
申请人：
北京理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种新型半导体测试设备
申请号	CN201922437513.X	申请日期	2019-12-30
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区北京理工大学自动化学院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	林知微;郭宵;黄凱麟
代理机构	济南旌励知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	单玉刚

摘要

一种新型半导体测试设备，包括箱体，箱体顶面和底面靠近右端处均开设第一通孔，箱体内设置竖直的第一矩形套筒，第一矩形套筒上下两端面位于对应的第一通孔内，且第一矩形套筒与第一通孔均固定连接，第一矩形套筒内壁中部固定安装水平的第一矩形铜环，第一通孔一侧均设置第三通孔，箱体内设置竖直的第二矩形套筒，第二矩形套筒上下两端面位于对应的第二通孔内，第二通孔前后侧面均开设左右方向的导向槽，导向槽内均安装滑块，第二矩形套筒与滑块均固定连接，第二矩形套筒内壁中部固定安装水平的第二矩形铜环。本实用新型通过改变两个矩形套筒之间的距离来满足不同型号的半导体芯片，适应性比较广，而且减少了更换引脚插座的时间，提高了工作效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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