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用于手征光学外差法的系统和方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200580026830.0
  • IPC分类号:G01N21/21
  • 申请日期:
    2005-06-29
  • 申请人:
    斯埃诺公司
著录项信息
专利名称用于手征光学外差法的系统和方法
申请号CN200580026830.0申请日期2005-06-29
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2007-10-10公开/公告号CN101052868
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/21IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;2;1查看分类表>
申请人斯埃诺公司申请人地址
美国佐治亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人斯埃诺公司当前权利人斯埃诺公司
发明人P·R·吉布斯;J·D·毕布
代理机构北京市中咨律师事务所代理人杨晓光;李峥
摘要
一种用于改进对样品的手征特性的检测的设备和方法,其首先以第一调制频率ω的探测光束调制,并用第二调制频率φ进一步调制。非线性光电检测器使该第一调制与该第二调制混合以在互调制边频带处分析频率分量,该非线性光电检测器可以包括多个检测器部分以形成平衡接收器,其中该互调制边频带级与该样品的手征光学特性相关。该互调制边频带可以为相加边频带或相减边频带。可以将锁相检测器用于接收从该非线性光电检测器输出的信号并产生不同调制频率的调制信号。另外,该非线性光检测器可以对该互调制边频带级的比值,例如(φ+2ω)/(φ+ω),进行分析,以获得与该样品的该手征特性线性相关的信号。

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