一种用于分析痕量气态单质汞的方法和装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201010149372.2
IPC分类号：G01N21/64;G01N1/22
申请日期：
2010-04-15
申请人：
中国科学院城市环境研究所

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著录项信息

专利名称	一种用于分析痕量气态单质汞的方法和装置
申请号	CN201010149372.2	申请日期	2010-04-15
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2011-10-19	公开/公告号	CN102221540A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4;;;G;0;1;N;1;/;2;2查看分类表>
申请人	中国科学院城市环境研究所	申请人地址	福建省厦门市集美大道1799号中国科学院城市环境研究所变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院城市环境研究所	当前权利人	中国科学院城市环境研究所
发明人	陈进生;徐亚;赵金平;徐玲玲;张福旺;尹丽倩
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种用于分析痕量气态单质汞的方法和装置，属于大气环境监测技术领域。该方法采用程控器控制分析全过程，将采集了大气气态单质汞(GEM)样品的捕汞管置于热解释放器后快速升温，释放的Hg0蒸气经除去携带的酸性组份后，进入二次富集/热解释放器，并被其中的捕汞管二次吸附。之后，二次富集/热解释放器快速升温，二次热解脱附的Hg0蒸气被载气吹入冷原子荧光检测器进行定量检测。本发明装置系统简单，运行可靠，捕汞管所采集的大气气态单质汞(GEM)样品，经过二次富集与热解释后进行分析，可有效地降低仪器的检测限，满足大气GEM痕量分析的要求。

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