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应用于ICP分析仪器等离子体位置调节的二维移动平台

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510314333.6
  • IPC分类号:G01N21/73;G01N27/64
  • 申请日期:
    2015-06-09
  • 申请人:
    钢研纳克检测技术有限公司
著录项信息
专利名称应用于ICP分析仪器等离子体位置调节的二维移动平台
申请号CN201510314333.6申请日期2015-06-09
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2015-09-02公开/公告号CN104880455A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/73IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;7;3;;;G;0;1;N;2;7;/;6;4查看分类表>
申请人钢研纳克检测技术有限公司申请人地址
北京市海淀区高粱桥斜街13号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人钢研纳克检测技术股份有限公司当前权利人钢研纳克检测技术股份有限公司
发明人董海洋;赵英飞;罗剑秋;唐振山;何淼;曹海霞
代理机构北京华谊知识产权代理有限公司代理人刘月娥
摘要
一种应用于ICP分析仪器等离子体位置调节的二维移动平台,属于ICP分析仪器等离子体调节系统技术领域。包括:水平滑轨、下支撑板、小轴承、光轴、U型块、传动板、连接板、大轴承、联轴器、电机、接触开关、限位环、接触开关基座、上滑动斜块、斜块固定板、中支撑板、斜块固定板连接板、垂直移动板、导轨、导轨滑块、垂直固定板、光电开关感应片、光电开关、垂直滑轨、下滑动斜块、上支撑板。通过二维移动平台的调节,实时的监测采集信号的变化,当信号最强时,即可认为等离子体的观测深度处于最佳位置,视场最好,灵敏度最好,背景干扰最小。

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