一种相控阵天线自动化测试系统及测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710533192.6
IPC分类号：G01R29/10;G01S7/40
申请日期：
2017-07-03
申请人：
北京遥测技术研究所;航天长征火箭技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种相控阵天线自动化测试系统及测试方法
申请号	CN201710533192.6	申请日期	2017-07-03
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-01-09	公开/公告号	CN107561374A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量 G01R29/10 天线的辐射图〔1，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;1;0;;;G;0;1;S;7;/;4;0查看分类表>
申请人	北京遥测技术研究所;航天长征火箭技术有限公司	申请人地址	北京市丰台区北京市9200信箱74分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京遥测技术研究所,航天长征火箭技术有限公司	当前权利人	北京遥测技术研究所,航天长征火箭技术有限公司
发明人	李冰;赖光霁;任超群
代理机构	中国航天科技专利中心	代理人	徐辉

摘要

本发明涉及一种相控阵天线自动化测试系统及测试方法，相控阵天线自动化测试系统包括包括矢网、探针及伺服系统、相控阵天线、相控阵天线测控盒和上位机；本发明采用上位将暗室中的矢网、探针的伺服控制系统、上位机、天线及测控盒集成一个整体，形成了一个闭环控制系统，省去了人工控制探针及伺服系统、天线的相位的工作，做到了暗室测试系统与天线控制系统的无缝结合，节省了大量需要人工完成的重复劳动，并降低了出错率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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