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专利名称 | 痕迹物证照相透视校正比例尺 |
申请号 | CN201320257135.7 | 申请日期 | 2013-05-13 |
法律状态 | 权利终止 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2013-10-30 | 公开/公告号 | CN203259087U |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G01B5/00 | IPC分类号 | G;0;1;B;5;/;0;0查看分类表>
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申请人 | 刘兰平 | 申请人地址 | 广东省深圳市罗湖区红桂路2068号红桂大厦1205室
变更
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权利人 | 刘兰平 | 当前权利人 | 刘兰平 |
发明人 | 陈鹏 |
代理机构 | 深圳冠华专利事务所 | 代理人 | 诸兰芬 |
摘要
本实用新型公开一种痕迹物证照相透视校正比例尺,比例尺本体为透明材质,刻度线、标志点位于比例尺背面从而避免了比例尺弯曲变形、刻度与痕迹物证不在一个平面的现象,而且为框形设计为前期拍照取景、后期校正透视变形现象提供了科学的参照物。采用本实用新型可以大幅提高痕迹物证影像的比例准确性,为全自动指纹、掌纹、足迹等图像识别系统建立起统一的标准,杜绝因活体采集扫描、平板扫描、拍照输入器材不同、标准不一等产生的误差,对提高鉴定质量和全自动比对系统的查中率有重大意义。
1.一种痕迹物证照相透视校正比例尺,其特征在于,比例尺本体为透明材质,刻度线、标志点位于比例尺背面。
2.根据权利要求1所述的痕迹物证照相透视校正比例尺,其特征在于,所述比例尺为矩形。
3.根据权利要求2所述的痕迹物证照相透视校正比例尺,其特征在于,所述比例尺为正方形。
4.根据权利要求2所述的痕迹物证照相透视校正比例尺,其特征在于,所述比例尺内框最小刻度为mm,长度大于2cm,标志点位于框体四角且长宽距离为0.5英寸的整数倍。
5.根据权利要求1所述的痕迹物证照相透视校正比例尺,其特征在于,所述比例尺为“凹形”,未封闭两端分别为插头和凹槽,两个比例尺可以组合成框形比例尺。
痕迹物证照相透视校正比例尺\n技术领域\n[0001] 本实用新型涉及法庭科学痕迹物证照相领域,尤其是涉及一种痕迹物证照相透视校正比例尺。\n背景技术\n[0002] 目前,法庭科学痕迹物证照相领域使用的比例尺多为条状比例尺或L形直角比例尺,使用中存在着以下缺陷:一是不干胶纸质比例尺质地柔软,容易褶皱、弯曲变形,导致照相比例不准确;二是不论是条状比例尺还是L形直角比例尺都存在一定的厚度,比例尺上方标识的刻度与痕迹物证不在一个平面,容易产生误差;三是痕迹物证照相中广泛存在透视变形现象,条状比例尺及L形条例尺都无法成为拍摄取景和后期透视变形校正的参照物。当前使用的比例尺均无法满足《比例照相规则》(GB/T23865-2009)提出的“照相机镜头与被摄物和比例尺保持垂直,比例尺应与被摄物体处在同一焦平面上”的要求。\n实用新型内容\n[0003] 为了克服现有的痕迹物证照相比例尺的不足,本实用新型提供一种痕迹物证照相透视校正比例尺,其是采用透明材料制作的框形比例尺,刻度线、标志点位于比例尺底部,从而避免了比例尺弯曲变形、刻度与痕迹物证不在一个平面的现象,而且为框形设计为前期拍照取景、后期校正透视变形现象提供了科学的参照物。采用本实用新型可以大幅提高痕迹物证影像的比例准确性,为全自动指纹、掌纹、足迹等图像识别系统建立起统一的标准,杜绝因活体采集扫描、平板扫描、拍照输入器材不同、标准不一等产生的误差,对提高鉴定质量和全自动比对系统的查中率有重大意义。\n[0004] 本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:\n[0005] 一种痕迹物证照相透视校正比例尺,比例尺本体为透明材质,刻度线、标志点位于比例尺背面。 \n[0006] 所述比例尺为矩形,框体为透明硬性材质,被摄物体放于内框拍摄,内框可以涵盖指纹、掌纹、足迹等常见痕迹物证,内框最小刻度为mm,长度大于2cm,标志点位于框体四角且长宽距离为0.5英寸的整数倍。\n[0007] 所述比例尺为正方形。\n[0008] 所述比例尺内框最小刻度为mm,长度大于2cm,标志点位于框体四角且长宽距离为0.5英寸的整数倍。\n[0009] 所述比例尺采用“凹形”设计,未封闭两端分别为插头和凹槽,两个比例尺可以组合成框形比例尺。\n[0010] 其采用材质坚韧、透明、能透过可见光和紫外线的框形比例尺,刻度线(cm为单位)、标志点(英寸为单位)刻于比例尺底部且使用能吸收或反射可见光和紫外线的黑、白、灰三色填充。框形比例尺内外框呈矩形或正方形,标志点间距分别为1寸×1寸、1寸×1.5寸、2寸×3寸、3.5寸×5英寸,以适应指印、掌印等不同痕迹物证大小的需要。另外,为了减小体积,便于携带,标志点间距为6寸×6.5寸的比例尺采用“凹形”设计,未封闭两端分别为插头和凹槽,两个比例尺可以组合成标志点间距为6寸×13寸的框形足迹比例尺。该实用新型不会弯曲变形,刻度和标志点紧贴痕迹物证表面,能够满足可见光和紫外照相各种方法的需求,大小合适的矩形和正方形便于观察取景以控制透视变形,后期校正时只需使用Photoshop“透视裁剪工具”点击四个标志点,输入长宽值即可同时实现比例制作和透视校正的目的。\n[0011] 本实用新型的有益效果是:可以减少传统比例尺弯曲变形和痕迹物证不在一个平面的不利影响,提高测量精度,增加了对透视变形现象进行控制和校正的功能。结构简单,便于操作,提高形态痕迹的鉴定质量,提高全自动识别系统的查中率。\n附图说明\n[0012] 图1是本实用新型1寸×1寸实施例的示意图;\n[0013] 图2是本实用新型1寸×1.5寸实施例的示意图;\n[0014] 图3是本实用新型2寸×3寸实施例的示意图;\n[0015] 图4是本实用新型3.5寸×5寸实施例的示意图;\n[0016] 图5是本实用新型凹形尺实施例的示意图;\n[0017] 图6是本实用新型凹形尺组合实施例的示意图。\n具体实施方式\n[0018] 如图所示,本实用新型提供了一种痕迹物证照相透视校正比例尺,其材质坚韧、不会弯曲变形;刻度和标志点刻于透明标尺的底面,紧贴痕迹物证表面,杜绝了标尺厚度导致刻度与被摄物体不在同一平面的影响;针对指纹、掌纹、足迹等常见痕迹物证的大小不同的框架形闭合设计,便于前期观察控制、后期校正透视变形现象;操作简捷,使用Photoshop“透视裁剪工具”点击四个标志点,输入长宽值即可一步完成比例制作和透视校正工作;适用范围广,比例尺采用的透明材质可以透过可见光和紫外线,而刻度及标志点填充物吸收可见光和短波紫外线,满足各种光学检验方法的需要。该新型比例尺克服了现有条状比例尺、直角形比例尺不能解决透视变形校正问题的不足,提高了比例图像精度,提高了工作效率,统一、对接了检材和样本图像工作标准。\n[0019] 该比例尺按标志点间距分为1寸×1寸、1寸×1.5寸、2寸×3寸、3.5寸×5英寸和6寸×6.5寸5种规格,适应指印、掌印等不同痕迹物证大小的需要。其中,6寸×6.5寸的比例尺采用“凹形”设计,未封闭两端分别为插头和凹槽,可以组合成标志点间距为6寸×13寸的框形足迹比例尺。\n[0020] 刻度线以cm为单位、标志点间距为0.5英寸的整数倍,同时满足比例照片制作、透视校正和检验鉴定的工作需求。 \n[0021] 各规格比例尺按刻度和标志点颜色均分为黑、白、灰三个系列,适应不同颜色承痕客体、不同规格尺寸痕迹的拍摄需要。每个色系的比例尺分层存放,取用方便,并配略去了钢卷尺、胶带、剪刀、橡皮泥等辅助工具。\n[0022] 如图1为标志点间距1寸×1寸,内框刻度2cm×2cm。\n[0023] 如图2为标志点间距1寸×1.5寸,内框刻度2cm×3cm。\n[0024] 如图3为标志点间距2寸×3寸,内框刻度4cm×7cm。\n[0025] 如图4为标志点间距3.5寸×5寸,内框刻度8cm×12cm。\n[0026] 如图5为标志点间距6寸×6.5寸,内框刻度14cm×16cm,框体厚度0.15cm,插头长1cm、宽0.9cm、厚0.15cm,凹槽端深1cm、宽0.9cm、上下壁均为0.15cm。\n[0027] 如图6为两节6寸×6.5寸比例尺组合成6寸×13寸框形比例尺。\n[0028] 以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
法律信息
- 2022-04-26
未缴年费专利权终止
IPC(主分类): G01B 5/00
专利号: ZL 201320257135.7
申请日: 2013.05.13
授权公告日: 2013.10.30
- 2013-10-30
引用专利(该专利引用了哪些专利)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 | 该专利没有引用任何外部专利数据! |
被引用专利(该专利被哪些专利引用)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 | 1 | | 2015-09-01 | 2015-09-01 | | |