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一种基于图像颜色和密度特征的超像素分割方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011297445.2
  • IPC分类号:G06T7/136;G06T7/66;G06T7/90;G06K9/62
  • 申请日期:
    2020-11-19
  • 申请人:
    天津科技大学
著录项信息
专利名称一种基于图像颜色和密度特征的超像素分割方法
申请号CN202011297445.2申请日期2020-11-19
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2021-02-12公开/公告号CN112365517A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T7/136IPC分类号G;0;6;T;7;/;1;3;6;;;G;0;6;T;7;/;6;6;;;G;0;6;T;7;/;9;0;;;G;0;6;K;9;/;6;2查看分类表>
申请人天津科技大学申请人地址
天津市天津经济技术开发区第十三大街29号天津科技大学轻工科学与工程学院 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津科技大学当前权利人天津科技大学
发明人陈永利;沈雪琪;田佳园;钟京昊;王雪平
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明提供了一种基于图像颜色和密度特征的超像素分割方法,首先对图像进行RGB到CIELAB色空间的转换,再对像素进行聚类与合并处理。聚类参考了像素的颜色和密度值,然后进行超像素的合并处理,包括合并弱边界处的小超像素和颜色纹理属性相似的的超像素,得到了具有边界贴合度与规则度良好的超像素分割图像。本发明为了提高像素分割目标边界的贴合度、块规则度,也提供了一种观察分割图像的方法;通过去除分割图像的干扰颜色信息,保留图像纹理特征,可以直观的观察图像的分割质量,也加便于对图像进行评价。本发明可实现较好的分割效果,尤其是在目标物的弱边界处具有较好的边界贴合度,提高了图像的分割质量与效果。

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