环形器及隔离器测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201320740554.6
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2013-11-21
申请人：
武汉华扬通信技术有限公司

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著录项信息

专利名称	环形器及隔离器测试装置
申请号	CN201320740554.6	申请日期	2013-11-21
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	武汉华扬通信技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区沙井新区洪田村上南东路128号恒昌荣高新产业园1栋7楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市华扬通信技术有限公司	当前权利人	深圳市华扬通信技术有限公司
发明人	黄帝坤;张伟
代理机构	深圳市博锐专利事务所	代理人	张明

摘要

本实用新型公开了一种环形器及隔离器测试装置，包括底座及连接器，所述底座包括第一相对侧壁及第二相对侧壁，所述第一相对侧壁上分别开设第一连接孔，所述第二相对侧壁的一者上开设第二连接孔，所述第一连接孔为多个并成排设置，所述第一连接孔及第二连接孔上连接有所述连接器。本实用新型可有效提高测试效率，并且该一种测试装置即可测试环形器也可测试隔离器，有效节省了购买测试装置增加的成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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