轮廓线自动量测系统及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210334493.3
IPC分类号：G01B21/20
申请日期：
2012-09-12
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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著录项信息

专利名称	轮廓线自动量测系统及方法
申请号	CN201210334493.3	申请日期	2012-09-12
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2014-03-26	公开/公告号	CN103673962A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/20 用于计量轮廓或曲率，例如测定外形〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;2;0查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	湖北省荆州市南湖路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	长江大学	当前权利人	长江大学
发明人	易远元
代理机构	深圳市神州联合知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	邓扬

摘要

一种轮廓线自动量测系统及方法，该方法包括步骤获取待测物体的轮廓线及组成该轮廓线的轮廓点；进行轮廓点取样，获取取样点及其对应的方向向量；根据每个取样点的方向向量将获取的取样点偏移第一预定距离得到对应的理论点，并生成一个量测程序；根据该量测程序对待测物体进行测量得到量测点坐标，计算量测点与对应理论点的距离得到各量测点的偏差值，根据最大偏差值与最小偏差值得到轮廓度；画出理论线与上下公差线，连接各个量测点与对应的理论点，标出各量测点的偏差值。利用本发明可以自动量测待测物体的轮廓线。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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