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薄膜半导体集成电路

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200410032243.X
  • IPC分类号:H03K19/003;H03K19/094
  • 申请日期:
    1995-05-19
  • 申请人:
    株式会社半导体能源研究所
著录项信息
专利名称薄膜半导体集成电路
申请号CN200410032243.X申请日期1995-05-19
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2005-01-05公开/公告号CN1560998
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H03K19/003IPC分类号H;0;3;K;1;9;/;0;0;3;;;H;0;3;K;1;9;/;0;9;4查看分类表>
申请人株式会社半导体能源研究所申请人地址
日本神奈川县厚木市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社半导体能源研究所当前权利人株式会社半导体能源研究所
发明人河崎祐司;小山润
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人张志醒
摘要
在由薄膜晶体管(TFTS)构成的半导体集成电路中,通过在至少包括一个P-沟型TFT的电路和至少包括一个N-沟型TFT的电路之间设置传输门电路,P-沟道型TFT或者N-沟道型TFT构成非门,或与非门电路。N-沟道型TFT接地。用设置的传输门电路,或P-沟道或N-沟道型TFT产生电压降,因而,减少了接地的N-沟道型TFT的漏电压,并使N-沟道型TFT的漏区附近的电场减弱。

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