脆性材料亚表面损伤层微裂纹全息反演检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110270926.9
IPC分类号：G01N21/88
申请日期：
2011-09-14
申请人：
西安交通大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	脆性材料亚表面损伤层微裂纹全息反演检测方法
申请号	CN201110270926.9	申请日期	2011-09-14
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-04-25	公开/公告号	CN102426170A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8查看分类表>
申请人	西安交通大学	申请人地址	陕西省西安市咸宁西路28号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安交通大学	当前权利人	西安交通大学
发明人	王海容;关赪;张欢;张碧柯;蒋庄德
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	朱海临

摘要

本发明公开了一种脆性材料亚表面损伤层微裂纹全息反演检测方法，其特征在于，对脆性材料腐蚀后表面采用分形插值方法进行重构，应用了分形插值理论的自相似性原理，充分刻画出腐蚀后表面的复杂微观形貌，在应用分形插值法重构腐蚀后材料表面基础上，采用有限差分法对亚表面损伤层微裂纹的形成与生长过程进行反演模拟，不仅可以得到亚表面损伤层微裂纹的深度，还可以得到微裂纹的大小、方向等信息。在获得亚表面损伤层微裂纹全息分布特征的基础上，提出全面完备的亚表面损伤层微裂纹全息分布特征的综合表征体系。

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