一种微小光程差测量系统

发明专利有效专利

申请号：
CN85102287
IPC分类号：--
申请日期：
1985-04-01
申请人：
中国科学院长春光学精密机械研究所

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专利名称	一种微小光程差测量系统
申请号	CN85102287	申请日期	1985-04-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	1986-08-06	公开/公告号	CN85102287
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械研究所	申请人地址	吉林省长春市斯大林街112号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械研究所
发明人	徐炳德
代理机构	中国科学院长春专利事务所	代理人	刘树清

摘要

一种微小光程差测量系统属于物理学领域中一种光学计量测试装置［Ｇ０１Ｊ９／００］，它是利用光拍相位变化来测量微小光程差的一种光电系统。本发明采用含有电光移相器的双臂可调程平行光路作为二不同频率光的非共程光路，选用了具有较佳性能参数的双频激光，因而使系统可测量１～一个光波长范围的微小位移；也可测量具有微小折射率变化或微小变形的透明体在１～一个光波长范围的微小光程变化，并可给出程差变化过程或其分布。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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