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超短脉冲宽度测试仪

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN200820078877.2
  • IPC分类号:G01J11/00
  • 申请日期:
    2008-02-01
  • 申请人:
    北京工业大学
著录项信息
专利名称超短脉冲宽度测试仪
申请号CN200820078877.2申请日期2008-02-01
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01J11/00IPC分类号G;0;1;J;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人北京工业大学申请人地址
北京市朝阳区平乐园100号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京工业大学当前权利人北京工业大学
发明人张新平;田金荣;张鹏;宋晏蓉;王丽
代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司代理人刘萍
摘要
超短脉冲宽度测试仪属于光电子领域。目前产品光学设计和调节过程复杂,体积大且价格昂贵,本实用新型依次包括:两片对于待测激光为透明且厚度在毫米量级的相同的片状材料(FS1),(FS2)、凹面反射镜(CM1)、非线性晶体(NL)、针孔光阑(PA)、凹面反射镜(CM2)、光电探测器(PD)、入射光脉冲的自相关特征曲线显示装置(OSC);待测激光通过片状材料的两束光平行但高度不同,入射至凹面反射镜(CM1)聚焦,在焦点放置非线性晶体产生和频光;针孔光阑只透过和频光,经另一凹面反射镜(CM2)准直,入射至光电探测器将光信号转化为电信号并输入显示装置(OSC)得入射光脉冲的自相关特征曲线。本实用新型集成化程度高、操作简便、具高性能价格比。

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