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用于近场电磁测距的系统和方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN03823688.5
  • IPC分类号:G01S11/02;G01S5/14
  • 申请日期:
    2003-07-30
  • 申请人:
    Q-TRACK股份有限公司
著录项信息
专利名称用于近场电磁测距的系统和方法
申请号CN03823688.5申请日期2003-07-30
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2005-10-26公开/公告号CN1688895
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01S11/02IPC分类号G;0;1;S;1;1;/;0;2;;;G;0;1;S;5;/;1;4查看分类表>
申请人Q-TRACK股份有限公司申请人地址
美国亚拉巴马州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人Q-TRACK股份有限公司当前权利人Q-TRACK股份有限公司
发明人汉斯·G·尚茨;罗伯特·E·德皮尔
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人黄小临;王志森
摘要
一种用于测量第一位置和第二位置间距离的系统,包括:(a)至少一个信标设备;至少一个信标设备中各信标设备位于第一位置并发射各电磁信号;以及(b)至少一个定位器设备;至少一个定位器设备中各定位器设备位于第二位置并接受各电磁信号。各定位器设备到各信标设备的距离在各电磁信号的近场范围内。各定位器设备辨别各电磁信号的至少两个特征。各定位器设备利用该至少两个特征实现测量。

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