监测半导体存储设备可靠性的方法及其装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200910146413.X
IPC分类号：G11C29/00;G11C11/34;G11C5/00
申请日期：
2009-06-02
申请人：
深圳市朗科科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	监测半导体存储设备可靠性的方法及其装置
申请号	CN200910146413.X	申请日期	2009-06-02
法律状态	驳回	申报国家	暂无
公开/公告日	2010-09-08	公开/公告号	CN101826367A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;0;;;G;1;1;C;1;1;/;3;4;;;G;1;1;C;5;/;0;0查看分类表>
申请人	深圳市朗科科技股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区高新区高新南一道中国科技开发院孵化大楼6楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市朗科科技股份有限公司	当前权利人	深圳市朗科科技股份有限公司
发明人	卢赛文
代理机构	北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司	代理人	余朦;王艳春

摘要

本申请提供了一种监测半导体存储设备可靠性的方法及装置，并提供了一种监测半导体存储设备可靠性的SMART方法。其中，半导体存储设备包括半导体存储介质，监测半导体存储设备可靠性的SMART方法包括：执行SMART命令，获取半导体存储介质的擦写信息；将擦写信息与预设的寿命阈值进行比较；以及根据比较的结果，确定半导体存储设备的可靠性。通过监测擦写信息，能够有效监测半导体存储设备的可靠性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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