热电材料塞贝克系数测量装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310084517.9
IPC分类号：G01N25/20
申请日期：
2013-03-15
申请人：
深圳市彩煌实业发展有限公司

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专利名称	热电材料塞贝克系数测量装置及方法
申请号	CN201310084517.9	申请日期	2013-03-15
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2013-12-25	公开/公告号	CN103472087A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先） G01N25/20 通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;2;0查看分类表>
申请人	深圳市彩煌实业发展有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙华新区龙华街道清湖社区清湖村彩煌厂办公大楼101 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市彩煌热电科技有限公司	当前权利人	深圳市彩煌热电科技有限公司
发明人	范平;郑壮豪;梁广兴;张东平;罗景庭;陈天宝;陈郁芝
代理机构	深圳市顺天达专利商标代理有限公司	代理人	蔡晓红

摘要

本发明公开了一种热电材料塞贝克系数测量装置及方法，包括测量探针（24）、样品固定平台（12）、探针固定平台（13）、温度控制系统（14）、电学采集仪（15）、与电学采集仪（15）连接的计算机（16）以及水冷机（11）。实施本发明的有益效果是：根据样品的大小，利用第一二维运动平台调节加热块与冷却块的位置，使两者夹持样品至合适的位置，利用第二二维运动平台调节测量探针的位置，可简便地对样品合适的位置进行相应参数的测量；再者，依次采用第一功率加热器、第二功率加热器对样品表面温度进行控制，能够减少测量时间以及提高测量精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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