一种基于二维交比不变的结构光传感器结构参数标定方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200810081873.4
IPC分类号：G01B11/00
申请日期：
2008-05-13
申请人：
北京航空航天大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种基于二维交比不变的结构光传感器结构参数标定方法
申请号	CN200810081873.4	申请日期	2008-05-13
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-02-11	公开/公告号	CN101363713
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	张广军;孙军华;刘谦哲;魏振忠
代理机构	北京汇泽知识产权代理有限公司	代理人	赵军

摘要

本发明公开一种基于二维交比不变的结构光传感器结构参数标定方法，该方法包括：建立摄像机坐标系、图像平面坐标系；建立靶标坐标系，获取用于标定传感器结构参数的平面靶标图像，并获取结构光投射在靶标平面上的光条的多个光条点在摄像机坐标系下的坐标；获取结构光多次投射在靶标平面上的光条的多个光条点在摄像机坐标系下的坐标，再根据获得的所有光条点坐标拟合结构光方程。本发明采用二维交比不变的方法，使得在平面靶标的每个位置上可以获取任意数量的标定点，且标定的结构光可以为任意模式。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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