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一种X射线双谱仪

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310726315.X
  • IPC分类号:G01N23/223
  • 申请日期:
    2013-12-26
  • 申请人:
    北京师范大学
著录项信息
专利名称一种X射线双谱仪
申请号CN201310726315.X申请日期2013-12-26
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2014-04-02公开/公告号CN103698350A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N23/223IPC分类号G;0;1;N;2;3;/;2;2;3查看分类表>
申请人北京师范大学申请人地址
北京市海淀区新街口外大街19号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京师范大学当前权利人北京师范大学
发明人程琳;黎龙辉;王君玲;李融武;潘秋丽;李崧;刘志国
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明涉及一种X射线双谱仪,所述双谱仪包括:4千瓦功率X射线管,三维样品移动台,CCD相机,毛细管X光半透镜,半导体X射线探测器和电子学系统I,平面晶体,NaIX射线探测器和电子学系统II,准直狭缝I和准直狭缝II;X射线能谱和波谱共有一个4千瓦大功率X射线管,毛细管X光半透镜固定于半导体X射线探测器和电子学系统I前,毛细管X光半透镜位于样品斜上方并成67.5度的角度对准样品用于收集样品的微区元素所激发出来的元素特征能量的X射线,计算机控制的三维样品移动台移动样品做线扫描或面扫描分析或样品中感兴趣的微区。

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