无损鉴别充填处理绿柱石的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110768507.1
IPC分类号：G01N21/64
申请日期：
2021-07-07
申请人：
中国地质大学（武汉）

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法律信息

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著录项信息

专利名称	无损鉴别充填处理绿柱石的方法
申请号	CN202110768507.1	申请日期	2021-07-07
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-10	公开/公告号	CN113376137A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人	中国地质大学（武汉）	申请人地址	湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国地质大学（武汉）	当前权利人	中国地质大学（武汉）
发明人	陈全莉;吴燕菡
代理机构	重庆市信立达专利代理事务所（普通合伙）	代理人	刘洁

摘要

本发明公开了无损鉴别充填处理绿柱石的方法，包括以下步骤：步骤一：选择绿柱石样品；步骤二：采用JASCO的FP‑8500荧光光谱仪测定；步骤三：数据处理，比对荧光光谱对绿柱石进行准确鉴定。荧光光谱仪的高灵敏度可以量化无法通过紫外荧光灯看到的荧光，它的连续激发光源照射可以完整地展现整个激发波段内宝石的荧光强度分布。充填处理绿柱石的荧光中心相对强度远强于天然绿柱石，故可通过分析绿柱石三维荧光光谱的荧光中心位置和相对强度来判断绿柱石是否经过充填处理。由此可见，荧光光谱分析对于区分天然绿柱石和充填处理绿柱石效果显著，可作为一种无损鉴别充填处理绿柱石的方法。

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