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半导体封装件及其制法

发明专利无效专利

申请号：
CN200710126887.9
IPC分类号：H01L21/50;H01L21/60;H01L21/56;H01L23/488;H01L23/31
申请日期：
2007-06-29
申请人：
矽品精密工业股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	半导体封装件及其制法
申请号	CN200710126887.9	申请日期	2007-06-29
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-12-31	公开/公告号	CN101335217
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01L21/50 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G 9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中半导体器件的使用见该应用的小类）〔2〕 H01L21/00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备〔2，8〕 H01L21/02 半导体器件或其部件的制造或处理〔2，8〕 H01L21/04 至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件，例如PN结、耗尽层、载体集结层〔2〕 H01L21/50 应用H01L 21/06至H01L 21/326中的任一小组都不包含的方法或设备组装半导体器件的〔2〕	IPC分类号	H;0;1;L;2;1;/;5;0;;;H;0;1;L;2;1;/;6;0;;;H;0;1;L;2;1;/;5;6;;;H;0;1;L;2;3;/;4;8;8;;;H;0;1;L;2;3;/;3;1查看分类表>
申请人	矽品精密工业股份有限公司	申请人地址	中国台湾台中县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	矽品精密工业股份有限公司	当前权利人	矽品精密工业股份有限公司
发明人	李春源;洪孝仁;林宥纬;张锦煌;赖正渊
代理机构	北京戈程知识产权代理有限公司	代理人	程伟

摘要

本发明公开了一种半导体封装件及其制法，是提供一载板且于该载板上形成有多个金属块，并于该载板上形成包覆该金属块的金属层，以将至少一半导体芯片电性连接至该金属层，再于该金属载板上形成包覆该半导体芯片的封装胶体，接着移除该载板及金属块，藉以相对在该封装胶体表面形成有多个的凹槽，其中该凹槽底面及侧边即覆盖有金属层，以供导电元件有效定位于该凹槽中，并充分与该金属层接合。

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