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基于全对称线圈结构的磁隔离器

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010629393.8
  • IPC分类号:H01F5/02;G01R15/20
  • 申请日期:
    2020-07-03
  • 申请人:
    西安智源导通电子有限公司;西安电子科技大学
著录项信息
专利名称基于全对称线圈结构的磁隔离器
申请号CN202010629393.8申请日期2020-07-03
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-09-11公开/公告号CN111653410A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01F5/02IPC分类号H;0;1;F;5;/;0;2;;;G;0;1;R;1;5;/;2;0查看分类表>
申请人西安智源导通电子有限公司;西安电子科技大学申请人地址
陕西省西安市高新区丈八街办科技二路72号西安软件园零壹广场11402-2 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安智源导通电子有限公司,西安电子科技大学当前权利人西安智源导通电子有限公司,西安电子科技大学
发明人郑峰;付沛源;韩涛
代理机构陕西电子工业专利中心代理人陈宏社;王品华
摘要
本发明提出了一种基于全对称结构的磁隔离器,属于磁性传感器领域,旨在解决现有技术中存在的CMTI指标难以提升的问题。包括自上而下依次层叠的磁场发生单元、隔离介质板、磁场感应单元和介质基板,磁场发生单元的上表面,以及磁场感应单元与介质基板之间,各设置有用以吸收外界干扰磁场的屏蔽层,磁场发生单元包括全对称线圈结构和第一介质体,全对称线圈结构镶嵌在第一介质体内,且包括上下排布且旋转方向相同的平面螺旋状第一线圈和第二线圈,第一线圈的输出端与第二线圈的输入端之间通过导体柱连接,导体柱位于第一线圈和第二线圈的旋转轴上,该旋转轴与第一介质体的中心法线重合,第二线圈的底面与第一介质体的底面重合。

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