一种主动式测试向量匹配方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610757297.5
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2016-08-29
申请人：
北京自动测试技术研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种主动式测试向量匹配方法
申请号	CN201610757297.5	申请日期	2016-08-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-02-15	公开/公告号	CN106405373A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	北京自动测试技术研究所	申请人地址	北京市海淀区北三环中路31号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京自动测试技术研究所	当前权利人	北京自动测试技术研究所
发明人	于明
代理机构	北京汲智翼成知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	陈曦

摘要

本发明公开了一种主动式测试向量匹配方法，包括如下步骤：S1，设计DSP的测试程序，通过程序配置器将DSP的测试程序固化到芯片中；S2，自动测试设备通过异步串行通信方式与DSP连接，向DSP发送匹配控制字；根据匹配控制字，使芯片到达唯一对应的工作状态和输出状态；S3，自动测试设备运行匹配控制字对应的测试向量，完成所述匹配控制字对应的主动式匹配测试；S4，重复步骤S2～S3，直至所有匹配控制字对应的测试向量测试完成，通过测试向量运行结果与匹配控制字对应的芯片到达唯一对应的工作状态和输出状态进行对比得到DSP的测试结果。提高了测试效率，减少了测试时间和测试成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供