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一种利用多光谱图像分类的典型地物参考图的制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210594861.8
  • IPC分类号:G01C21/20;G06K9/62
  • 申请日期:
    2012-12-31
  • 申请人:
    华中科技大学
著录项信息
专利名称一种利用多光谱图像分类的典型地物参考图的制备方法
申请号CN201210594861.8申请日期2012-12-31
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-05-08公开/公告号CN103090868A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C21/20IPC分类号G;0;1;C;2;1;/;2;0;;;G;0;6;K;9;/;6;2查看分类表>
申请人华中科技大学申请人地址
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华中科技大学当前权利人华中科技大学
发明人张天序;边小勇;颜露新;李姣;高慧杰;彭凡;张力;周刚;朱虎
代理机构华中科技大学专利中心代理人李佑宏
摘要
本发明公开了一种利用多光谱图像分类进行典型地物参考图制备的方法,从多光谱图像提取出感兴趣类作为地标,并制备出包含所述地标的参考图,以用于目标的间接定位识别,该方法具体包括:从多光谱图像中选择感兴趣类,提取其光谱-空间纹理特征,根据提取的光谱-空间纹理特征对多光谱图像进行分类;在分类基础上,提取完整的感兴趣类,并依据地标选取准则选择用作地标的感兴趣类;根据地标材质类型,利用红外辐射公式计算出地标在大气参数条件下的红外辐射量;将所述红外辐射量映射到灰度值,从而制备出包含地标形状及其灰度、背景灰度的参考图。本发明的方法具有较高的准确性和自动性,可提高基于参考图的匹配识别算法性能。

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