测试模组

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200820188546.4
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2008-08-13
申请人：
番禺得意精密电子工业有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测试模组
申请号	CN200820188546.4	申请日期	2008-08-13
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	番禺得意精密电子工业有限公司	申请人地址	广东省广州市番禺南沙经济技术开发区板头管理区金岭北路526号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	番禺得意精密电子工业有限公司	当前权利人	番禺得意精密电子工业有限公司
发明人	朱德祥
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型测试模组，包括：一测试板，设有至少四第一电性接触部；一绝缘本体，组设于测试板上，具有一第一表面和一第二表面，且设有至少二收容槽贯穿第一和第二表面，且于每一收容槽的两侧设有一固定槽；至少二导电端子，分别收容于收容槽内，设有第一导接部，第一导接部两端弯曲延伸形成弹性臂，弹性臂延伸形成第二导接部电性接触第一电性接触部，第二导接部进一步弯折延伸形成收容于固定槽的一固定部；以及一芯片，组设于绝缘本体上并邻近第二表面，设有至少二第二电性接触部电性接触所述第一导接部；芯片压制导电端子至测试板使第二导接部与电性接触部摩擦接触并产生相对位移。本实用新型测试模组提高了所述导电端子的导电性能。

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