一种八工位晶振全自动检测机

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201721516106.2
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2017-11-14
申请人：
深圳市铭宇泰科技有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种八工位晶振全自动检测机
申请号	CN201721516106.2	申请日期	2017-11-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	深圳市铭宇泰科技有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区43区兴华一路北A栋五楼之二变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市铭宇泰科技有限公司	当前权利人	深圳市铭宇泰科技有限公司
发明人	唐新君
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种八工位晶振全自动检测机，包括升降基座，所述升降基座底端安装有分度转盘，且分度转盘顶端设置有测试夹具，所述测试夹具内部安装有固定螺钉，且固定螺钉顶端外部连接有分度转盘，所述升降基座顶端安装有升降机，且升降基座前端内部设置有移动轨道，所述测试固定柱底端安装有测试针，所述第一测试支架右侧设置有第二测试支架，且第二测试支架顶端安装有测试针，所述第二测试支架右侧安装有第三测试支架，且第三测试支架右侧设置有第四测试支架，所述第四测试支架右侧安装有第五测试支架，且第五测试支架顶端连接有测试针。该八工位晶振全自动检测机可以同步检测多个晶振，且能够同时检测晶振的多种性能，提高检测效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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