一种在精密测长仪中测量高解析面板的标记结构

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201920104675.9
IPC分类号：G01B11/02
申请日期：
2019-01-22
申请人：
福建华佳彩有限公司

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著录项信息

专利名称	一种在精密测长仪中测量高解析面板的标记结构
申请号	CN201920104675.9	申请日期	2019-01-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	福建华佳彩有限公司	申请人地址	福建省莆田市涵江区涵中西路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	福建华佳彩有限公司	当前权利人	福建华佳彩有限公司
发明人	不公告
代理机构	福州市景弘专利代理事务所（普通合伙）	代理人	黄以琳;林祥翔

摘要

本实用新型提供一种在精密测长仪中测量高解析面板的标记结构，包括多个最小标记单元，所述最小标记单元为正方形，多个最小标记单元聚集排列，每一个最小标记单元都至少与一个最小标记单元相邻，相邻的最小标记单元的相邻的边为重合状态，所述最小标记单元的数量为一自然数的平方，多个最小标记单元的行数与该自然数相同，多个最小标记单元的首行数量和末行数量不相同。区别于现有技术，上述技术方案通过对标记结构的改变，使得标记结构在像素点间距较小的时候，精密测长仪都还能自动测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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