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一种基于机器视觉的微纳米缺陷检测装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810341863.3
  • IPC分类号:G01N21/88G01N21/95
  • 申请日期:
    2018-04-17
  • 申请人:
    苏州富鑫林光电科技有限公司
著录项信息
专利名称一种基于机器视觉的微纳米缺陷检测装置
申请号CN201810341863.3申请日期2018-04-17
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-11-06公开/公告号CN108760746A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/88IPC分类号G01N21/88;G01N21/95查看分类表>
申请人苏州富鑫林光电科技有限公司申请人地址
江苏省苏州市工业园区星湖街328号创意产业园8幢9*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人苏州富鑫林光电科技有限公司当前权利人苏州富鑫林光电科技有限公司
发明人许照林
代理机构苏州创元专利商标事务所有限公司代理人范晴
摘要
本发明公开了一种基于机器视觉的微纳米缺陷检测装置,包括:微纳米光学成像系统,用于微纳米缺陷成像;实时聚焦系统,用于缺陷成像系统的实时聚焦;自适应复杂背景图像处理系统,用于图像处理和缺陷标定;高精度抗干扰机构平台,用于系统机构支撑和功能实现。本发明的基于机器视觉的微纳米缺陷检测装置,采用微纳米检测技术,实现微纳米级检测技术及其相应系统,可大幅度提高产品制造过程中精度和制程良率。微纳米视觉检测设备的研制,可填补国内纳米级检测设备空白。

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