用于晶体管电流及电压测试的测试设备

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201320307143.8
IPC分类号：G01R19/00
申请日期：
2013-05-30
申请人：
京东方科技集团股份有限公司

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著录项信息

专利名称	用于晶体管电流及电压测试的测试设备
申请号	CN201320307143.8	申请日期	2013-05-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R19/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R19/00 用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置（G01R 5/00优先；用于测量生物电流或电压的入A61B 5/04）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	京东方科技集团股份有限公司	申请人地址	北京市朝阳区酒仙桥路10号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	京东方科技集团股份有限公司	当前权利人	京东方科技集团股份有限公司
发明人	张玉军
代理机构	北京银龙知识产权代理有限公司	代理人	许静;黄灿

摘要

本实用新型提供一种用于晶体管电流及电压测试的测试设备，其中，所述测试设备包括：光源本体；用于利用所述光源本体所发出光线获取待测位置的图像采集装置，所述图像采集装置包括图像采集镜头；位置可调节的探针，对所述待测位置进行电流及电压测试时，所述探针位于所述待测位置处；用于生成单波段光线来照射所述探针以进行晶体管电流及电压测试的分光计，所述分光计连接有出光光纤，所述出光光纤的光纤镜头与所述图像采集镜头保持固定距离。所述测试设备能够实现薄膜晶体管TFT在单色、单波段光线照射下的光电流测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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