探针卡及测试系统

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201620064514.8
IPC分类号：G01R1/073
申请日期：
2016-01-22
申请人：
中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司

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著录项信息

专利名称	探针卡及测试系统
申请号	CN201620064514.8	申请日期	2016-01-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/073 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕 G01R1/073 多个探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;7;3查看分类表>
申请人	中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司	申请人地址	天津市西青区中国天津市西青经济开发区兴华道19号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中芯国际集成电路制造（天津）有限公司,中芯国际集成电路制造（上海）有限公司	当前权利人	中芯国际集成电路制造（天津）有限公司,中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
发明人	牛刚
代理机构	上海思微知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	屈蘅;李时云

摘要

本实用新型公开一种探针卡及测试系统，所述探针卡还包括至少一个接通装置，每个接通装置具有第一端和第二端并分别与两个不同金手指连接，仅在与接通装置的第一端连接的金手指通电时，所述接通装置的第二端连接的金手指的电位与所述接通装置的第二端连接的金手指的电位才相同。由于本实用新型的探针卡具有接通装置，使得探针卡可以满足具有多于4个测试端的器件的测试的需求，而无需重新设计探针卡的布局，降低了成本及工作时间的消耗。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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