一种测量聚四氟乙烯粉体平均粒径及其粒径分布的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201010002837.1
IPC分类号：G01N15/02
申请日期：
2010-01-20
申请人：
中昊晨光化工研究院

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著录项信息

专利名称	一种测量聚四氟乙烯粉体平均粒径及其粒径分布的方法
申请号	CN201010002837.1	申请日期	2010-01-20
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2010-07-07	公开/公告号	CN101769847A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/02 测试颗粒的粒度或粒经分布（G01N 15/04，G01N 15/10优先；通过测定渗透压力入G01N 7/10；）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;2查看分类表>
申请人	中昊晨光化工研究院	申请人地址	四川省自贡市富顺县晨光路135号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中昊晨光化工研究院有限公司	当前权利人	中昊晨光化工研究院有限公司
发明人	刘斌;蔡醇洋;郭立伟
代理机构	北京路浩知识产权代理有限公司	代理人	王朋飞

摘要

本发明提供了一种测量聚四氟乙烯粉体平均粒径(D50，又称中位径)及其粒径分布的方法，其包括以洗洁精/异丙醇为浸润体系，以水为分散介质，用激光粒度仪测量分散体系中聚四氟乙烯粉体的平均粒径及其粒径分布，适于2μm-300μm的聚四氟乙烯粉体平均粒径的测量；以及，以压缩气体为分散介质，将分散压力控制在0.4～1.0bar，用激光粒度仪测量分散体系中聚四氟乙烯粉体的平均粒径及其粒径分布，适于200μm-1000μm的聚四氟乙烯粉体平均粒径的测量。本发明的方法能够方便、快速、稳定地测量聚四氟乙烯粉体的平均粒径及其粒径分布，适于2μm-1000μm聚四氟乙烯粉体平均粒径的测量。

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