一种漏电场无损检测方法与装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201110167841.8
IPC分类号：G01N27/61
申请日期：
2011-06-21
申请人：
华中科技大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种漏电场无损检测方法与装置
申请号	CN201110167841.8	申请日期	2011-06-21
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-01-25	公开/公告号	CN102331451A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/61 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/60 通过测试静电变量 G01N27/61 测试缺陷的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;6;1查看分类表>
申请人	华中科技大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华中科技大学	当前权利人	华中科技大学
发明人	康宜华;孙燕华;谈存真
代理机构	华中科技大学专利中心	代理人	曹葆青

摘要

本发明公开了一种漏电场无损检测方法与装置：该方法通过下述技术方案予以实现，向待检测导电金属体通入直流电流，激励金属体在缺陷处产生漏电场，将电场传感器制成地探头布置于金属体附近空间中，与金属体表面保持一定距离，非接触式探测金属体外电场，探头输出电压信号放大、滤波后通过采集进入计算机提取信号特征并用波形图形式显示，获得被检测金属体缺陷信息。实现本方法的装置结构简单，操作方便，使用安全，适用于自动化探伤。本方法用于导电金属体的缺陷探测，不仅能探测金属体表面缺陷，也能探测其内部缺陷，尤其适用于有色金属(如铝、铜、钛合金)，奥氏体不锈钢以及温度高于居里点的钢铁材料。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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