芯片内同精度Sigma-deltaADC和Sigma-deltaDAC的数字电路测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201410114690.3
IPC分类号：G01R31/317
申请日期：
2014-03-25
申请人：
同济大学

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著录项信息

专利名称	芯片内同精度Sigma-deltaADC和Sigma-deltaDAC的数字电路测试方法
申请号	CN201410114690.3	申请日期	2014-03-25
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2014-07-23	公开/公告号	CN103941177A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/317 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;7查看分类表>
申请人	同济大学	申请人地址	上海市杨浦区四平路1239号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	同济大学	当前权利人	同济大学
发明人	冯晖
代理机构	上海智信专利代理有限公司	代理人	吴林松

摘要

本发明提出了一种芯片内同精度Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路测试方法，属于大规模集成电路技术领域。该方法连接芯片中的Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路，在Sigma-delta DAC的输入端输入数字测试信号，在Sigma-delta ADC的输出端接收数字信号，通过比较输入的数字测试信号与输出的数字信号，即可判断Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路是否均正常工作。本发明芯片内同精度Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路测试方法可以在一次测试中就能测试出Sigma-delta数模转换和Sigma-delta模数转换两部分数字电路的正确性，测试方法简单，测试效率高。

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