颗粒物切割器的校准系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201210056491.2
IPC分类号：G01N1/22
申请日期：
2012-03-06
申请人：
深圳市华测检测技术股份有限公司

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著录项信息

专利名称	颗粒物切割器的校准系统
申请号	CN201210056491.2	申请日期	2012-03-06
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2012-07-25	公开/公告号	CN102607894A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/02 取样装置 G01N1/22 气体的	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;2;2查看分类表>
申请人	深圳市华测检测技术股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区新安街道留仙三路4号华测检测大楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市华测计量技术有限公司	当前权利人	深圳市华测计量技术有限公司
发明人	张文阁;刘正辉;梁杰;郭冰;范静宏
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种颗粒物切割器的校准系统，用于校准颗粒物切割器，切割器用于分离空气中的颗粒物，包括：气源、输气管、控制系统及实验仓，气源通过输气管与实验仓连通，控制系统包括控制器、流量控制器、温度控制器及湿度控制器，流量控制器、温度控制器及湿度控制器均与控制器电性连接，实验仓包括相互连通的混合仓及悬浮仓，混合仓内置有已定数量的颗粒物，混合仓将气源输出的气体与颗粒物混合形成确切浓度的标准样品，标准样品进入悬浮仓，且悬浮仓对标准样品进行缓冲后供待校准切割器进行采样，通过对比确切浓度的标准样品和待校准切割器所收集到的数据来对待校准切割器进行校准。本发明是一种高精度、高效能的颗粒物切割器的校准系统。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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