集成电路开短路自动测试系统

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201020284782.3
IPC分类号：G01R31/02
申请日期：
2010-08-06
申请人：
上海宏测半导体科技有限公司

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著录项信息

专利名称	集成电路开短路自动测试系统
申请号	CN201020284782.3	申请日期	2010-08-06
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/02 对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;2查看分类表>
申请人	上海宏测半导体科技有限公司	申请人地址	江苏省南京市浦口区江浦街道浦滨大道320号科创广场科创总部大厦B座24楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京宏泰半导体科技有限公司	当前权利人	南京宏泰半导体科技有限公司
发明人	毛国梁
代理机构	上海晨皓知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	卢刚

摘要

本实用新型涉及一种集成电路开短路自动测试系统，其主要包括电源模块、数据总线、测试通道模块，该集成电路开短路自动测试系统还包括上位机控制系统、控制与测试源模块、显示与控制模块以及测试中设备交互模块，其中，电源模块与控制与测量源模块连接至数据总线，测试通道模块一端连接至数据总线，另一端连接至测试中设备交互模块。本实用新型提高了测试系统的适应性及方便性；保证量产过程中的稳定性，提高了单个系统的量产测试产量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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