一种高可靠的芯片化保护装置自检电路

发明专利有效专利

申请号：
CN201810476886.5
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2018-05-18
申请人：
国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院;北京智芯微电子科技有限公司;国家电网公司;国网信息通信产业集团有限公司

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专利名称	一种高可靠的芯片化保护装置自检电路
申请号	CN201810476886.5	申请日期	2018-05-18
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2018-11-16	公开/公告号	CN108828351A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院;北京智芯微电子科技有限公司;国家电网公司;国网信息通信产业集团有限公司	申请人地址	辽宁省沈阳市和平区四平街39-7号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院,北京智芯微电子科技有限公司,国家电网公司,国网信息通信产业集团有限公司	当前权利人	国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院,北京智芯微电子科技有限公司,国家电网公司,国网信息通信产业集团有限公司
发明人	王峥;王于波;李良;刘国华;于同伟;葛维春;李延;丁岳;张武洋;卢岩;杨文;耿亮;刘柱
代理机构	辽宁沈阳国兴知识产权代理有限公司	代理人	何学军

摘要

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种高可靠的芯片化保护装置自检电路。本发明是包括：保护核、通讯核以及自检逻辑；其中，保护核包含保护逻辑电路和保护用MCU核，通讯核包含通讯逻辑电路和通讯用MCU核；自检逻辑与通讯核通过通信核的调试接口进行连接；自检逻辑与保护核通过保护核的调试接口进行连接；通讯核生成的自检电气量通过通讯核的IO口输出；保护核与通讯核间通过共享内存的方式进行数据交互，通过中断信号和IO口进行控制交互；其余连接均为直线连接。本发明极大提升了保护装置的可靠性；实现对保护装置正常工作状态的高度模拟，提升自检功能的覆盖率；根据具体保护场景加载不同的故障模拟程序，提高保护装置的适用场景。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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