首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据，仅供参考，实际以国家知识产权局展示为准

用光学全息干涉实时无损测定物体残余应力的方法与设备

发明专利无效专利

申请号：
CN00817976.X
IPC分类号：G01B9/027;G01B11/16
申请日期：
2000-10-19
申请人：
费劳斯全息摄影技术公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用光学全息干涉实时无损测定物体残余应力的方法与设备
申请号	CN00817976.X	申请日期	2000-10-19
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2003-04-30	公开/公告号	CN1415066
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B9/027 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B9/00 组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器（用于测量特定的参量的装置入G01B 11/00）〔2〕 G01B9/02 干涉仪 G01B9/021 用全息照相技术的〔2〕 G01B9/027 实时的〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;9;/;0;2;7;;;G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	费劳斯全息摄影技术公司	申请人地址	瑞典隆德变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	阿格里斯集团有限公司	当前权利人	阿格里斯集团有限公司
发明人	J·P·菲耶尔斯塔;I·E·菲耶尔斯塔;L·M·罗巴诺夫;V·A·皮夫托拉克;N·G·库夫辛斯基;S·G·安德鲁斯陈科;V·P·库斯尼鲁克;V·P·罗吉诺夫;P·D·克洛藤科;V·A·帕夫洛夫
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	卢新华;郭广迅

摘要

本发明涉及零件、机器部件和机械装置、各种材料的无损检验方法和设备，具体涉及基于光学全息干涉技术无损测定残余应力的方法和设备。首先，记录初始状态下物体检测区域的全息图。然后，通过将物体表面暴露在矩形高电流脉冲下，实现检测区域的检测点中的残余应力释放。最后，制作物体的严格相同区域中的干涉图。由干涉图中的条纹形状及尺寸确定检测区域的残余应力。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供