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一种色噪声下相控阵列电磁互耦误差校正方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110586388.8
  • IPC分类号:G01S7/40;H04B17/391
  • 申请日期:
    2021-05-27
  • 申请人:
    重庆邮电大学
著录项信息
专利名称一种色噪声下相控阵列电磁互耦误差校正方法
申请号CN202110586388.8申请日期2021-05-27
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-08-31公开/公告号CN113325376A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01S7/40IPC分类号G;0;1;S;7;/;4;0;;;H;0;4;B;1;7;/;3;9;1查看分类表>
申请人重庆邮电大学申请人地址
重庆市南岸区黄桷垭崇文路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人重庆邮电大学当前权利人重庆邮电大学
发明人刘松;庞育才;余翔;李国军
代理机构北京同恒源知识产权代理有限公司代理人廖曦
摘要
本发明涉及一种色噪声下相控阵列电磁互耦误差校正方法,属于阵列校正领域。该方法首先忽略色噪声影响,通过样本协方差矩阵特征分解获得噪声子空间估计,并利用交替迭代降秩算法得到信标方向和电磁互耦参数的粗估计;然后将电磁互耦参数粗估计作为初始值,利用协方差匹配估计技术在色噪声模型下对电磁互耦参数进行迭代估计并获得最终精确估值。校正方法只需要单个校正信标和单次校正实验,校正实验不需要在暗室中进行,也不需要精确的信标方向,适合于非暗室条件下相控阵列的电磁互耦误差校正。

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