样本检查装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201410077005.4
IPC分类号：G01N21/3581
申请日期：
2014-03-04
申请人：
精工爱普生株式会社

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权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	样本检查装置
申请号	CN201410077005.4	申请日期	2014-03-04
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2014-09-10	公开/公告号	CN104034688A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/3581 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕 G01N21/31 测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术〔3〕 G01N21/35 利用红外光（G01N 21/39优先）〔3，2014.01〕 G01N21/3581 利用远红外光；利用太赫兹辐射〔2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;3;5;8;1查看分类表>
申请人	精工爱普生株式会社	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	精工爱普生株式会社	当前权利人	精工爱普生株式会社
发明人	富冈纮斗;竹中敏
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	舒艳君;李洋

摘要

本发明涉及样本检查装置，能够抑制因太赫兹波的散射引起的检测精度的降低。本发明的样本检查装置（100）具有产生太赫兹波的太赫兹波产生部（30）、和载置作为被检查物的样本（2）的输送面（12），且具备构成为能够沿输送面（12）的面内方向输送样本（2）的输送部（10）、变更从太赫兹波产生部（30）射出并对被载置于输送面（12）的样本（2）照射的太赫兹波的照射方向的照射方向变更部（50）、以及检测照射至被载置于输送面（12）的样本（2）并透过或者反射的太赫兹波的太赫兹波检测部（40），照射方向变更部（50）通过变更太赫兹波产生部（30）的位置来变更照射方向。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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