X射线荧光分析器

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201320054213.3
IPC分类号：G01N23/223
申请日期：
2013-01-31
申请人：
赛默科技便携式分析仪器有限公司

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著录项信息

专利名称	X射线荧光分析器
申请号	CN201320054213.3	申请日期	2013-01-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/223 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/206 （转入G01N 23/205） G01N23/22 通过测量来自材料的二次发射〔1，2，2006.01，2018.01〕 G01N23/223 通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光〔2，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;3查看分类表>
申请人	赛默科技便携式分析仪器有限公司	申请人地址	美国马萨诸塞州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	赛默科技便携式分析仪器有限公司	当前权利人	赛默科技便携式分析仪器有限公司
发明人	R.C.沃佩雷尔;C.W.比泽;H.D.克罗格
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	冯春时;杨炯

摘要

一种分析仪器，带有载体以便在该载体上接收有待分析的样品。x射线源用x射线照射在该载体上的样品。检测器检测响应于x射线照射所发射的辐射。外壳包括罩盖，该罩盖在其中该载体被包围的关闭位置和允许进入以便在该载体上放置和移除样品的打开位置之间活动。第一和第二x射线屏蔽窗口由该外壳承载，并且容许当该罩盖在关闭位置时从该分析仪器的相对侧面同时观察在该载体上的样品。在此还披露了多种分析方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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