使用纳米孔进行单分子检测的系统和方法

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专利名称	使用纳米孔进行单分子检测的系统和方法
申请号	CN201280007903.1	申请日期	2012-02-23
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-30	公开/公告号	CN103380369A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/02 通过测试阻抗 G01N27/04 通过测试电阻 G01N27/06 液体的电阻（关于电分析的入G01N 27/2）	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;0;6;;;B;3;2;B;3;/;2;6;;;H;0;1;T;1;4;/;0;0查看分类表>
申请人	纽约市哥伦比亚大学理事会	申请人地址	美国纽约市百老汇116街变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	纽约市哥伦比亚大学理事会	当前权利人	纽约市哥伦比亚大学理事会
发明人	雅各布·罗森斯坦;肯尼斯·L·谢泼德
代理机构	上海波拓知识产权代理有限公司	代理人	杨波

摘要

一种使用集成电路进行单分子检测的系统和方法，所述集成电路包括至少一个薄膜，所述薄膜具有一个位于第一储槽和第二储槽之间的纳米孔，还包括一个低噪声前置放大器，所述低噪声前置放大器具有一个形成于其表面上的电极。该方法包括目标分子穿过所述纳米孔，如果有电流通过该纳米孔，测量电流以检测生物分子实体的存在。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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