一种辅助测试治具

发明专利无效专利

申请号：
CN201210391836.X
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2012-10-16
申请人：
昆山迈致治具科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种辅助测试治具
申请号	CN201210391836.X	申请日期	2012-10-16
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2013-01-16	公开/公告号	CN102879693A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	昆山迈致治具科技有限公司	申请人地址	江苏省苏州市昆山市玉山镇马鞍山中路民新路155号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	昆山迈致治具科技有限公司	当前权利人	昆山迈致治具科技有限公司
发明人	钟晓伟
代理机构	南京纵横知识产权代理有限公司	代理人	董建林

摘要

本发明公开了一种辅助测试治具，包括：上天板、连接柱、上针板、探针、导柱、底盒，上述上天板与上针板通过连接柱连接，上述底盒上设有装载平台和导孔，上述导柱设置于上针板的周边并且与上述导孔相配合，其特征在于，上述上针板上还安装有一滑轨，上述滑轨配合一沿其滑动的滑块，上述滑块安装一感应片；上述装载平台上安装一继电器，上述底盒上还安装一转轴组件，上述滑块形成一避让结构以与转轴组件相互作用从而使上天板下压时感应片与继电器接触。有益之处在于：本发明的辅助测试治具，适用于对电脑主板、各类元器件等产品进行测试，属于一种半自动测试治具，工作效率高、检测准确且快速。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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