一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202022243504.X
IPC分类号：G01R1/04;G01R31/28
申请日期：
2020-10-10
申请人：
江门市华凯科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置
申请号	CN202022243504.X	申请日期	2020-10-10
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	江门市华凯科技有限公司	申请人地址	广东省江门市新会区会城镇城东区石家庄变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	江门市华凯科技有限公司	当前权利人	江门市华凯科技有限公司
发明人	李卫国;杨富征;谭永良;李嘉颖;杨国健;何启文;黄炜庭;谭威
代理机构	广州蓝晟专利代理事务所（普通合伙）	代理人	陈梓赫;欧阳凯

摘要

本实用新型公开了一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置，属于芯片测试控制领域，本实用新型包括芯片，芯片的下端设有用于与分选机连接的芯片测试待接接口区，芯片的左侧设有用于与测试机连接的两个高性能测试机接口，芯片的右侧设有用于与待测试MT2008芯片连接的两个分选机接口，高性能测试机接口区与分选机接口区之间设有功能测试区，本实用新型布局合理，接口分散在芯片的周边，中间为各种测试区，方便MT2008芯片测试时候的接线，可同时测试两个MT2008芯片，降低了每个芯片的测试时间和成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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