半导体分立器件特性曲线跟踪仪器

发明专利无效专利

申请号：
CN201310585083.0
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2013-11-20
申请人：
西安谊邦电子科技有限公司

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著录项信息

专利名称	半导体分立器件特性曲线跟踪仪器
申请号	CN201310585083.0	申请日期	2013-11-20
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2015-05-27	公开/公告号	CN104655998A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	西安谊邦电子科技有限公司	申请人地址	陕西省西安市雁塔区太白南路191号崇立金世园第1幢012902室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安谊邦电子科技有限公司	当前权利人	西安谊邦电子科技有限公司
发明人	李耀武
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种通过半导体分立器件特性曲线跟踪仪器。半导体分立器件特性曲线跟踪装置，由上位机、测试主机、扩展台、治具四部分组成，所述测试主机里包含下位机、机械手/探针台驱动模块、总线转换模块、数据总线模块、AD/DA转换模块、功率放大器、继电器阵列，所述的下位机里装有自检、自校准程序，所述的扩展台扩展所述功率放大器，采用16位并行AD/DA转换模块设计，测试速度快，精度高；采用下位机控制，实现脱机运行；采用多级开尔文技术，系统稳定性高，测试结果准确；完整的自检/自校准能力；采用上位机显示，直观，好操作；可以连接机械手或探针台，效率高；数据存储在PC机里，读写方便。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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