一种测量光子带隙光纤陀螺背向次波相干误差的装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610003856.3
IPC分类号：G01C25/00
申请日期：
2016-01-04
申请人：
北京航空航天大学

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专利名称	一种测量光子带隙光纤陀螺背向次波相干误差的装置及方法
申请号	CN201610003856.3	申请日期	2016-01-04
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-04-06	公开/公告号	CN105466457A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01C25/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01C 测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学（液体水平面的测量入G01F；无线电导航，通过利用无线电波的传播效应，例如多普勒效应，传播时间来测定距离或速度，利用其他波的类似装置入G01S） G01C25/00 有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理（罗盘的检验、校准或补偿入G01C 17/38）	IPC分类号	G;0;1;C;2;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	徐小斌;张智昊;高福宇;宋凝芳;金靖;宋镜明
代理机构	北京永创新实专利事务所	代理人	姜荣丽

摘要

本发明公开了一种测量光子带隙光纤陀螺背向次波相干误差的装置及方法，属于光纤陀螺技术领域。所述装置在所述集成光学波导的两个输出端分别耦合普通光纤，对应的两个普通光纤尾纤A和普通光纤尾纤B分别在熔点A和熔点B熔接光子带隙光纤A和光子带隙光纤B，在熔点A、熔点B分别产生菲涅尔背向反射波WA和WB，在普通光纤尾纤A和光子带隙光纤B中散射点B1和A1会产生背向散射波WA1和WB1；在状态一通过锁相放大器相干解调得到WB和WB1的背向次波强度IBCS‑B，在状态二得到WB、WB1、WA、WA1的背向次波强度之和；在次波误差最大时，计算得到陀螺的偏置误差。本发明采用相干检测的方法，测量精度高；实验装置简单，易于实现。

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