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高压倒装发光二极管芯片及其制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202080007490.1
  • IPC分类号:H01L33/62;H01L33/46;H01L33/10
  • 申请日期:
    2020-12-28
  • 申请人:
    厦门三安光电有限公司
著录项信息
专利名称高压倒装发光二极管芯片及其制备方法
申请号CN202080007490.1申请日期2020-12-28
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-08-24公开/公告号CN113302758A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L33/62IPC分类号H;0;1;L;3;3;/;6;2;;;H;0;1;L;3;3;/;4;6;;;H;0;1;L;3;3;/;1;0查看分类表>
申请人厦门三安光电有限公司申请人地址
福建省厦门市同安区洪塘镇民安大道841-899号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人厦门三安光电有限公司当前权利人厦门三安光电有限公司
发明人刘士伟;徐瑾;王水杰;刘可;阙珍妮;张中英
代理机构北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙)代理人王立红
摘要
本申请公开了一种高压倒装发光二极管芯片及其制备方法。该高压倒装发光二极管芯片包括多个子芯片和保护层;相邻子芯片之间通过隔离槽间隔,且相邻子芯片之间电性连接;每个子芯片均包括半导体堆叠层,半导体堆叠层包括第一类型半导体层、有源层和第二类型半导体层;保护层覆盖子芯片以及相邻子芯片之间的隔离槽;位于隔离槽处的保护层形成有凹陷区,至少在该高压倒装发光二极管芯片中心区域的凹陷区形成有第三焊盘。本申请在该高压倒装发光二极管芯片的中心区域形成第三焊盘,在顶针作用在该芯片的中心区域时,该第三焊盘能够避免顶针刺破保护层,提高芯片的可靠性。

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