用于力测量设备的温度校正的方法和力测量设备

发明专利有效专利

申请号：
CN201080033262.8
IPC分类号：G01G3/18;G01G7/04;G01G23/01
申请日期：
2010-07-23
申请人：
梅特勒-托利多公开股份有限公司

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著录项信息

专利名称	用于力测量设备的温度校正的方法和力测量设备
申请号	CN201080033262.8	申请日期	2010-07-23
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2012-05-30	公开/公告号	CN102483345A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01G3/18 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01G 称量 G01G3/00 以应用可产生弹性形变的元件为特征的称量仪器，例如弹簧秤 G01G3/18 温度补偿装置	IPC分类号	G;0;1;G;3;/;1;8;;;G;0;1;G;7;/;0;4;;;G;0;1;G;2;3;/;0;1查看分类表>
申请人	梅特勒-托利多公开股份有限公司	申请人地址	瑞士格赖芬塞变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	梅特勒-托莱多有限公司	当前权利人	梅特勒-托莱多有限公司
发明人	T·克佩尔;D·雷伯
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	刘佳斐;蔡胜利

摘要

本发明涉及一种用于力测量设备(1)，具体地说，天平的温度校正的方法，其是基于电磁力补偿原理的，其按正常的测量模式运行，包括借助于力测量单元(10)来产生与输入力对应的力测量信号(mL)的步骤；借助于设置在离所述力测量设备(1)的发热部件一定距离处的温度传感器(15)来产生电气的温度测量信号(mT)，其中所述温度测量信号(mT)相应于所述力测量设备所暴露的环境温度(Te)；基于所述温度测量信号(mT)和力测量信号(mL)来将所述力测量信号(mL)处理成温度校正输出信号(mLc)；并且将所述输出信号(mLc)输送至指示器单元(13)和/或进一步的处理单元(14)。在所述处理步骤中，借助于热力学模型来由所述力测量信号(mL)和/或温度测量信号(mT)计算出用于校正所述输出信号(mLc)的至少一个校正参数(CP)，其中所述校正参数(CP)表示处于系统温度(Ts、Ts1、Ts2)和环境温度(Te)之间或者第一系统温度(Ts1)和第二系统温度(Ts2)之间的温度差(dTr、dT1、dT2)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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